在最近的IEDM大會上,英特爾向全世界展示了其在新一代半導(dǎo)體技術(shù)上的突破。公司表示,已成功將CMOS硅晶體管與氮化鎵(GaN)功率晶體管集成,這一創(chuàng)新技術(shù)將引領(lǐng)48V設(shè)備的發(fā)展進入一個全新的階段。
這個具有集成驅(qū)動器的GaN器件是由Cambridge GaN Devices、EPC和Navitas以及歐洲重大研究項目英飛凌領(lǐng)導(dǎo)的開發(fā)團隊共同研發(fā)的。這一技術(shù)的成功,標志著英特爾在48V及以下電壓下GaN效率利用上的領(lǐng)先地位。
Components Research芯片中尺度工藝開發(fā)總監(jiān)Paul Fisher表示:“英特爾是唯一一家專注于48V及以下電壓下GaN效率利用的公司。”他同時指出,“去年,我們展示了具有業(yè)界最佳品質(zhì)因數(shù)的GaN晶體管,增益比LDMOS或e-mode GaN HEMT等硅器件高出20倍。這對我們來說是一個真正的突破,我們正在通過在300mm硅片上使用Gan和CMOS的大規(guī)模3D單片工藝,更進一步地邁出這一步。”
英特爾首席工程師Han Wui補充道:“不僅如此,我們還為第一個集成CMOS驅(qū)動器提供了DR驅(qū)動器GaN,并在同一個芯片上單片集成了GaN電源開關(guān)。”他表示,英特爾于2004年推出首款DR MOS,并成為同時向PC和數(shù)據(jù)中心服務(wù)器供電的行業(yè)標準。驅(qū)動器和電源集成使用硅晶體管提供了具有低寄生效應(yīng)的高密度解決方案。
Wui進一步指出:“我們的工作表明,可以將硅PMOS晶體管與GaN晶體管結(jié)合起來,并具有高品質(zhì)因數(shù),以跟上功率密度的增長步伐。”他強調(diào),“GaN器件對于n溝道來說是一種很棒的器件,但作為一種補充技術(shù),在使用空穴承載電流方面將面臨p模式的挑戰(zhàn),因為它們的遷移率非常低,而這正是硅p溝道的用武之地。”他表示,“我們的DR GAN具有一個GaN N溝道和一個硅p溝道器件,具有高遷移率以及柵極氧化物和觸點。”
此次英特爾的突破性研究為解決當前半導(dǎo)體行業(yè)的挑戰(zhàn)提供了新的思路。將硅和氮化鎵相結(jié)合的單片、三維GaN和硅晶體管堆疊技術(shù)不僅提供了一流的性能和效率,同時還將多種功能集成在單個芯片上。這將極大地提高電路設(shè)計的效率和性能,同時降低了封裝體積,滿足了當今對更高能效、更小外形尺寸的需求。
隨著5G及更高技術(shù)的普及和發(fā)展,聯(lián)網(wǎng)移動設(shè)備數(shù)量的指數(shù)級增長已是可以預(yù)見的未來。為了滿足這些設(shè)備的供電需求,集成電路需要以更小的外形尺寸提供更高的能效。在這個背景下,英特爾的這項新技術(shù)無疑為整個行業(yè)的發(fā)展提供了新的動力。
總的來說,英特爾在IEDM大會上的這次突破性展示為我們揭示了一個全新的半導(dǎo)體時代。通過將CMOS硅晶體管與氮化鎵(GaN)功率晶體管集成,英特爾成功地開辟了一條新的道路,為未來半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展注入了新的活力。我們期待看到這項技術(shù)在未來的廣泛應(yīng)用和持續(xù)發(fā)展。
本文鏈接:http://m.www897cc.com/showinfo-27-46279-0.html英特爾展示CMOS與GaN集成新技術(shù)
聲明:本網(wǎng)頁內(nèi)容旨在傳播知識,若有侵權(quán)等問題請及時與本網(wǎng)聯(lián)系,我們將在第一時間刪除處理。郵件:2376512515@qq.com